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無法測出正確的反射率、測試數(shù)據(jù)波動(dòng)大、解析條件如何設(shè)置？擬合度差,nk怎么解析？ 是對焦位置不正確？是鏡頭選用不正確？還是測試條件&解析條件設(shè)置有誤？ 如果您也有同樣的測試?yán)Щ螅堃欢▍⒓游宜镜木W(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會。

2025/10/23 15:00~16:00，蘇州線上講習(xí)會，由日本粒徑測量專家講解的DLS測量方法技巧介紹，DLS測量和分析原理、樣品制備的注意點(diǎn)、測量·解析時(shí)的故障排除說明。

大塚電子誠邀您共赴半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件及材料展盛會——第十三屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件及材料展（CSEAC 2025。2025年9月4日-6日，我們將在無錫太湖國際博覽中心2F A6-625展位恭候您的蒞臨！

偏光片、相位差膜、液晶盒、液晶涂布膜客戶，以及對偏光、相位差測量技術(shù)感興趣的各界賓客。

測量案例：電池行業(yè)（炭黑、碳納米管等）、半導(dǎo)體行業(yè)（晶圓、CMP漿料等）、生物·醫(yī)藥（凝膠粒子、納米金粒子等）、食品化妝品行業(yè)（氧化鈦等）。

應(yīng)用領(lǐng)域：光學(xué)膜、接著劑、硬化涂層、半導(dǎo)體光刻膠、食品用薄膜、醫(yī)療用薄膜等。

● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率 的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。

大塚電子MINUK可評價(jià)nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。

大塚電子（蘇州）有限公司產(chǎn)品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等

VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量、LCoS液晶盒盒厚檢測Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估、和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。

大塚電子的 Zeta 電位測量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評價(jià)平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會將介紹其應(yīng)用。

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